台式TWE测试仪
采用四波剪切传感器测量光学波前，可用于评估当不同波长单色光通过时光学元件的性能（如PV、RMS、MTF、像差、球差等结果）。
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400-1100nm波长范围
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5.02×3.75mm孔径尺寸
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＜2 nm RMS测试分辨率（相位）
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产品优势
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产品参数
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应用解决方案
产品优势
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高精度波前测量
支持10nm RMS解析度，精准捕捉光学元件的波前信息与成像质量
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多功能测试平台
兼容平面与透镜类产品，支持快速更换Holder设计，适配不同规格产品测量需求
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非接触式快速检测
采用高稳定性光学系统，采集速度快，结果重复性高
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定制化波长与输出
支持多波段切换测试，并一键输出定制报告图表
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集成紧凑高效
模块化设计节省空间，搭配可视化软件界面，操作更直观高效
产品参数
系列型号
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台式TWE测试仪
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波长范围
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尺寸
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孔径尺寸
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相位空间分辨率
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分辨率（相位）
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精度（绝对）
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采集频率
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实时处理频率
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接口
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重量
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上/下料模式
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精密运动控制
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电源
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气源
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功率
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额定电流
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外观尺寸
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重量
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台式TWE测试仪
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波长范围400-1100 nm
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尺寸62 mm×64 mm×94 mm
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孔径尺寸5.02 mm×3.75 mm
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相位空间分辨率27.6 μm-77.28 μm（依扩束镜而定）
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分辨率（相位）＜4 nm RMS
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精度（绝对）10 nm RMS
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采集频率60 fps
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实时处理频率10 fps（全分辨率）
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接口千兆网
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重量~400 g
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上/下料模式手动上下料
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精密运动控制手动滑台 快速替换Holder系统
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电源AC 220 V，50 Hz
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气源无
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功率100 W
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额定电流0.5 A（MAX 1A）
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外观尺寸430 mm×430 mm×884.5 mm
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重量55 kg
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